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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

光譜系統(tǒng)

顯微缺陷膜厚半導體晶圓缺陷檢測儀高光譜測試系統(tǒng) 瞬態(tài)吸收系統(tǒng) 太陽能電池量子效率太陽光模擬器IV系統(tǒng) 顯微光電流成像系統(tǒng) 探測器光響應度系統(tǒng) 光譜變溫附件探針臺拉曼SERS增強試劑顯微熒光系統(tǒng) 組合熒光系統(tǒng) 鏡頭透過率測試系統(tǒng) 漫反射率測試系統(tǒng) 反射、吸收率系統(tǒng) 成像亮度計標準燈參考輻射定標電致發(fā)光系統(tǒng) 常規(guī)發(fā)射光譜系統(tǒng) 共聚焦拉曼光譜儀

探測器光譜響應測試系統(tǒng)

S-DSR探測器光譜響應測試系統(tǒng) ? 寬光譜范圍（200~14000nm可選），適用面廣 ? 調(diào)制法測量技術，提升測量結(jié)果信噪比 ? 開機即用的Turnkey系統(tǒng)設計，維護簡單 ? 監(jiān)視光路，方便樣品定位 ? 全反射光路設計，優(yōu)化光斑質(zhì)量 ? 高穩(wěn)定性光源，降低背景噪聲影響 ? 標準測量軟件，數(shù)據(jù)導出格式支持第三方軟件

更新時間：2025-01-22

產(chǎn)品型號：S-DSR

瀏覽量：1856
光譜變溫附件/探針臺

光譜變溫附件/探針臺 THMS600 是使用.為廣泛的高精度冷熱臺。其寬泛的溫度范圍（-196°C到 600°C）和升溫速率（0.1 到 150°C/min），以及高精度（全程 0.1°C）和高穩(wěn)定（0.01°C），使其在各行業(yè)得到廣泛的應用。

更新時間：2025-01-22

產(chǎn)品型號：

瀏覽量：1732
SERS增強試劑

波銘科儀銷售的多種SERS增強試劑、SERS芯片，均是經(jīng)過嚴格反復試驗、驗證、摸索制備而成，各項性能指標都很優(yōu) 良，能滿足大多數(shù)生物分子、染料分子及其他分析物分子的拉曼檢測，穩(wěn)定性高，拉曼增強效應強。

更新時間：2025-01-22

產(chǎn)品型號：

瀏覽量：1272
熒光量子效率測試系統(tǒng)

QE-2000熒光量子效率測試系統(tǒng)瞬間測量絕.對量子效率。適用于粉末、溶液、固體（膜）、薄膜樣品的測量。通過低雜散光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區(qū)域的雜散光。

更新時間：2025-01-22

產(chǎn)品型號：QE-2000

瀏覽量：1750
顯微熒光成像系統(tǒng)

S-MPL系列顯微熒光成像系統(tǒng) 光致發(fā)光（photoluminescence）即PL，是用紫外、可見或紅外輻射激發(fā)發(fā)光材料而產(chǎn)生的發(fā)光，在半導體材料的發(fā)光特性測量應用中通常是用激光（波長如325nm、532nm、785nm等）激發(fā)材料（如 GaN、ZnO、GaAs等）產(chǎn)生熒光，通過對其熒光光譜（即PL譜）的測量，分析該材料的光學特性，如禁帶寬度等。

更新時間：2025-01-22

產(chǎn)品型號：S-MPL系列

瀏覽量：1462
組合熒光系統(tǒng)

組合熒光系統(tǒng)采用模塊化設計，既可實現(xiàn)穩(wěn)態(tài)、瞬態(tài)測量，又能實現(xiàn)UV-VIS-MIR的寬范圍測量。組合熒光系統(tǒng)多種部件可供選擇（光源、探測器、樣品架、變溫模塊等），能針對研究者實驗的不同需求量身打造為合適的熒光光譜系統(tǒng)。

更新時間：2025-01-22

產(chǎn)品型號：S-Fluo系列

瀏覽量：1475

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